“动态力显微镜”（DFM）是通过探测一个原子力显微镜（AFM）的振荡尖和一个表面之间相互作用来工作的，它已经发展到了对绝缘体、半导体和金属表面的探测达到真正原子分辨率的程度 。在Nature发表的一篇具有里程碑意义的研究成果中，该方法被用来进行一个多元素体系中单个原子的化学识别 。该方法涉及对被探测原子与AFM尖部之间短距离化学力的精确量化，它能为低温及室温环境提供一个可靠而通用的识别工具 。这种原子级的识别方法在如催化、材料科学和半导体技术等广泛的研究领域都可能找到用武之地 。
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