一个新的成像技术能在0.1纳米尺度以下观察材料，这个技术也许能使研究人员看到一个晶格中的单个杂质原子 。现有的透射电子显微镜(TEM)不能分辨0.15纳米以下的物体，比如晶格中的一个原子队列 。Peter D. Nellist和同事改造了一个TEM，得到了晶体硅的一个直接成像，能分辨出距离为0.078纳米的硅原子对 。文章作者写道，“这样高的分辨率应该能给带来对材料性质的原子尺度的了解，可能应用于材料、化学和纳米科学” 。
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