研究人员找到了威胁一种潜在的磁性信息存储元件性能的根源 。该元件用“三明治”结构,包括固定磁性的硬铁磁材料层和可转变磁性的软铁磁材料层 。这些夹层结构产生的磁性作用使它们成为信息存储的优良候?。?但是科学家注意到软铁磁层中磁性经常的变化最终会导致硬铁磁层磁性的衰退,导致储存内容的丢失 。McCartney等人利用一架电子显微镜和一系列的磁性模拟,在软铁磁层的一些磁畴周围发现了大的边缘磁场 。这些边缘场被证明是硬铁磁层最终衰退的“元凶”,边缘磁场逐步反转硬铁磁层中单个磁性颗粒的极化方向 , 最终使其退磁 。
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